X熒光光譜儀(XRF光譜儀)是一種用于元素分析和化學(xué)分析的儀器，適用于金屬不折不扣、玻璃再獲、陶瓷、建材最深厚的底氣、地球化學(xué)敢於挑戰、法醫(yī)學(xué)、考古學(xué)等領(lǐng)域應用擴展。
X熒光光譜儀利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料過程中，激發(fā)出次級(jí)X射線，這種現(xiàn)象被稱為X射線熒光(XRF)。這些次級(jí)X射線具有不同的能量或波長(zhǎng)特性總之，通過(guò)檢測(cè)這些特征X射線，可以確定樣品中的元素組成和含量好宣講。
分類
根據(jù)其結(jié)構(gòu)和測(cè)量原理的不同連日來，X熒光光譜儀可以分為波長(zhǎng)色散型(WDXRF)和能量色散型(EDXRF)兩種。波長(zhǎng)色散型通過(guò)測(cè)量不同波長(zhǎng)的X射線強(qiáng)度來(lái)進(jìn)行定性和定量分析不斷進步，而能量色散型則直接測(cè)量X射線的能量進(jìn)行分析信息化技術。
工作原理
X熒光光譜儀主要由激發(fā)源(如X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)組成。激發(fā)源產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)認為，激發(fā)被測(cè)樣品責任製，產(chǎn)生X熒光(二次X射線)。探測(cè)器對(duì)這些X熒光進(jìn)行檢測(cè)良好，并將信號(hào)傳輸給儀器軟件系統(tǒng)雙重提升，轉(zhuǎn)換為對(duì)應(yīng)的元素信息。
應(yīng)用領(lǐng)域
X熒光光譜儀廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域：
金屬倍增效應、玻璃結果、陶瓷和建材：用于材料成分分析和質(zhì)量控制。
地球化學(xué)：用于地質(zhì)樣品分析重要意義。
考古學(xué)：用于古代藝術(shù)品和遺跡的分析規則製定。
食品安全：用于檢測(cè)食品中的元素含量。
環(huán)境保護(hù)：用于環(huán)境監(jiān)測(cè)和污染分析。
科學(xué)研究：用于各種科研項(xiàng)目的元素分析表現明顯更佳。
總之更加廣闊，X熒光光譜儀是一種多功能的分析工具，適用于多種材料和領(lǐng)域的元素及化學(xué)成分分析技術先進，具有快速示範、非破壞性、高精度和高靈敏度的特點(diǎn)提高。
