1.影響因素的有關(guān)說明

　　a 基體金屬磁性質(zhì)

　　磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中質生產力，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響非常激烈，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準提升行動。

　　b 基體金屬電性質(zhì)

　　基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)技術交流。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準交流。

　　c 基體金屬厚度

　　每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度可靠保障，測量就不受基體金屬厚度的影響規劃。本儀器的臨界厚度值見附表1。

　　d 邊緣效應(yīng)

　　本儀器對試件表面形狀的陡變敏感共同。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的發展。

　　e 曲率

　　試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大在此基礎上。因此推進一步，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

　　f 試件的變形

　　測頭會使軟覆蓋層試件變形開展，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)帶動擴大。

　　g 表面粗糙度

　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響前來體驗。粗糙程度增大，影響增大實現了超越。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差發揮重要帶動作用，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)確定性，以克服這種偶然誤差明確了方向。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后意料之外，再校對儀器的零點必然趨勢。

　　g 磁場

　　周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作橋梁作用。

　　h 附著物質(zhì)

　　本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感文化價值，因此，必須清除附著物質(zhì)優化程度，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸廣度和深度。

　　i 測頭壓力

　　測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此全方位，要保持壓力恒定信息。

　　j 測頭的取向

　　測頭的放置方式對測量有影響。在測量中管理，應(yīng)當使測頭與試樣表面保持垂直廣泛關註。

　　2.使用儀器時應(yīng)當遵守的規(guī)定

　　a 基體金屬特性

　　對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似顯示。

　　對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)大局，應(yīng)當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似豐富內涵。

　　b 基體金屬厚度

　　檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有效率和安，可采用3.3中的某種方法進行校準就能壓製。

　　c 邊緣效應(yīng)

　　不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣產能提升、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量發揮。

　　d 曲率

　　不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。

　　e 讀數(shù)次數(shù)

　　通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同適應能力，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)設施。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量快速增長，表面粗造時更應(yīng)如此要求。

　　f 表面清潔度

　　測量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土開放以來、油脂及腐蝕產(chǎn)物等等形式，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)

　　涂鍍層測厚儀中F，N以及FN的區(qū)別:

　　F代表ferrous 鐵磁性基體組合運用，F(xiàn)型的涂層測厚儀采用電磁感應(yīng)原理支撐作用， 來測量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層至關重要、鍍層，例如:漆自然條件、粉末擴大公共數據、塑料、橡膠體系流動性、合成材料設計標準、磷化層、鉻助力各行、鋅經過、鉛、鋁互動互補、錫核心技術體系、鎘、瓷力度、琺瑯新產品、氧化層等。

　　N代表Non- ferrous非鐵磁性基體持續發展，N型的涂層測厚儀采用電渦流原理;來測量用渦流傳感器測量銅更加廣闊、鋁、鋅合作、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆勇探新路、塑料層等長遠所需。

　　FN型的涂層測厚儀既采用電磁感應(yīng)原理，又采用采用電渦流原理供給，是F型和N型的二合一型涂層測厚儀不斷發展。