產品介紹

鍍層測厚儀產家產品特點：

操作界面簡單產能提升，測量方便，快捷 無損檢測品牌，在無標準樣品時亦可準確分析
采用127±5eV的高精度分辨率適應能力，保證數據測量的精度。 能夠檢測鹵族元素的精確含量
同置高清晰攝像頭節點，可幫助客戶判斷測量的部位 手動精準移動平臺,可輔助客戶微移產品
電控機蓋升降 采用*雙峰位快速自動校準提高。
電制冷型的X光管配合光管保養(yǎng)程序，散熱更好用上了，并能有效的延長X光管的壽命
外觀高貴大方結構，加大儀器內部空間，儀器內部通風性優(yōu)的特性，并有效屏蔽電磁干擾
自動譜線識別競爭力所在、多元素同時定性定量分析能力建設、讓用戶方便認識分析樣品的組成
的定量分析算法，包含FP法先進的解決方案、檢量線法基礎、經驗系數法、理論系數法研究進展、神經網絡算法等
客戶可根據自已的要求進行二次開發(fā)擴大公共數據，自行開發(fā)任意多個分析方法
設置了自動安全防護開關，以確保用戶安全使用體系流動性。

鍍層測厚儀產家技術指標：

測試對像：粉未設計標準、固體、液體

元素分析范圍：鈉 -鈾

同時zui多可測元素：36種

含量分析范圍：1ppm～99.99%

工作穩(wěn)定性：總熒光強度為0.1％

測試時間：60～200S

探測器分辨率：127eV±5

進口（64位）DSP數字信號處理芯片

多道分析器：2048道

X射線光管：功率50W助力各行，靶材可選Ag經過、Rh、W互動互補、Mo

高壓電源：電壓范圍0~50KV核心技術體系，穩(wěn)定度每小時小于0.05%

外型尺寸：720mm×520mm×360mm(不包括支腳)

測量倉：590mm×400mm×120mm

重量：60Kg

zui低檢出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm

技術參數：

可測鍍層數：zui多可達5層
鍍層種類：單金屬鍍層、合金鍍層
鍍層識別精度：zui薄可測試0.005μm力度。
厚度測試范圍：輕金屬（如：Ti新產品、Cr等）0.01～50um
中金屬（如：Ni、Cu持續發展、Zn更加廣闊、Pd、Ag合作、Sn等）0.01～30um
重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um

應用范圍：

針對企業(yè)應對歐盟勇探新路、北美RoHS環(huán)保指令精心設計長遠所需。不但可以測試RoHS指令中的鉛、汞支撐作用、鎘積極性、鉻、銻解決、硒性能、砷等重金屬，還能測試無鹵素指令的溴取得明顯成效、氯等有害元素及金屬鍍層基地。已在有色金屬、連接器、端子約定管轄、印刷雙向互動、玩具、服飾新創新即將到來、醫(yī)療設備生產效率、地礦、電子設計能力、電器更合理、五金、PCB適應性、半導體顯著、通信、電鍍更優美、首飾需求、手表、汽車更為一致、鋼鐵各方面、鞋材、皮革等行業(yè)得到廣泛應用落地生根。