分析rohs檢測(cè)儀的原理：
　　rohs檢測(cè)儀就是X射線(xiàn)熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線(xiàn)熒光光譜儀的分析原理搖籃。X射線(xiàn)熒光光譜儀通吵掷m創新？煞譃閮纱箢?lèi)，波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀（WDXRF）和能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀（EDXRF）使用，波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源分析、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等不難發現，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件合規意識，相對(duì)簡(jiǎn)單。
　　rohs檢測(cè)儀波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線(xiàn)推動，根據(jù)Bragg定律協調機製，通過(guò)測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線(xiàn)波長(zhǎng)：nλ=2dsinaθ（n=1,2,3…）有效性，式中高質量發展，λ為分析譜線(xiàn)波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距形勢；θ為衍射角攻堅克難；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線(xiàn)的衍射角也逐步提升，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)保護好，從而獲得待測(cè)元素的特征信息。
　　rohs檢測(cè)儀能量色散射線(xiàn)熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器組織了，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量有望，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線(xiàn)能量：Q=kE智能設備，式中解決問題，K為入射射線(xiàn)的光子能量服務效率；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；k為不同類(lèi)型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)導向作用。電荷量與入射射線(xiàn)能量成正比蓬勃發展，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息。
　　rohs檢測(cè)儀待測(cè)元素的特征譜線(xiàn)需要采用一定的激發(fā)源才能獲得重要意義。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線(xiàn)光管和同位素激發(fā)源等問題。
　　rohs檢測(cè)儀為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外效率，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。