合金分析儀 是一種XRF光譜分析技術(shù)建設應用，可用于確認物質(zhì)里的特定元素， 同時將其量化廣度和深度。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長（λ）及能量（E）確定具體元素應用的因素之一，而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素構(gòu)成日漸深入。

      每一個原子都有自己固定數(shù)量的電子（負電微粒）運行在核子周圍的軌道上奮勇向前。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質(zhì)子（正電微粒）數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)可以得知質(zhì)子的數(shù)目預期。每一個原子數(shù)都對應(yīng)固定的元素名稱豐富。能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應(yīng)用了zui里層三個電子軌道即K，L，M上的活動情況善於監督，其中K軌道zui為接近核子大局，每個電子軌道則對應(yīng)某元素一個個特定的能量層。

      在XRF分析法中數據，從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素效率和安。這些初級光子含有足夠的能量可以將zui里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時邁出了重要的一步，原子變成了不穩(wěn)定的離子產能提升。由于電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進入彌補內(nèi)層的空間品牌。在這些電子從外層進入內(nèi)層的過程中適應能力，它們會釋放出能量，稱之為二次X射線光子節點。而整個過程則稱為螢光輻射快速增長。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。特定元素在一定時間內(nèi)所放射出來的X射線的數(shù)量或者密度通過活化，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況等形式。