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技術(shù)文章

X熒光光譜儀技術(shù)原理

更新時(shí)間：2016-01-29

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X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線）大大縮短，激發(fā)被測(cè)樣品堅持好，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)高質量。

X熒光光譜儀技術(shù)原理：

受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線構建，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量大幅增加。然后平臺建設，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。

元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷服務延伸，同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線先進技術，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)貢獻力量，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下：

λ=K(Z− s) −2

式中K和S是常數(shù)合作。

而根據(jù)量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流前景，每個(gè)光具有的能量為：

E=hν=h C/λ

式中，E為X射線光子的能量，單位為keV調解製度；h為普朗克常數(shù)；ν為光波的頻率形式；C為光速覆蓋範圍。

因此,只要測(cè)出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)功能。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系前沿技術，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析積極性。