鍍層測厚儀的電渦流原理分析
　　鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)培養，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段共創美好。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中高效流通，對鍍層厚度有了明確要求預判。
　　鍍層測厚儀的測量方法主要有:楔切法，光截法不難發現，電解法知識和技能，厚度差測量法，稱重法醒悟，X射線熒光法進行部署，β射線反向散射法，電容法新模式、磁性測量法及渦流測量法等等重要作用。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣應用情況，速度慢很重要，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
　　高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場也逐步提升，測頭靠近導(dǎo)體時(shí)保護好，就在其中形成渦流。測頭離導(dǎo)電基體愈近組織了，則渦流愈大充足，反射阻抗也愈大。這個反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小表現，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小異常狀況。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭的積極性。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯更多可能性，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較高效，主要區(qū)別是測頭不同分析，信號的頻率不同，信號的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。
　　采用電渦流原理的鍍層測厚儀逐漸顯現，原則上對所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測量，如航天航空器表面重要性、車輛、家電體系、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆系統穩定性，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性多種場景，通過校準(zhǔn)同樣也可測量發展契機，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體機製性梗阻，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測量較為合適齊全。