X熒光光譜儀(XRF光譜儀)是一種用于元素分析和化學(xué)分析的儀器，適用于金屬具有重要意義、玻璃前景、陶瓷、建材勃勃生機、地球化學(xué)進一步、法醫(yī)學(xué)、考古學(xué)等領(lǐng)域多種。
X熒光光譜儀利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料發行速度，激發(fā)出次級(jí)X射線，這種現(xiàn)象被稱為X射線熒光(XRF)強大的功能。這些次級(jí)X射線具有不同的能量或波長(zhǎng)特性效果，通過檢測(cè)這些特征X射線，可以確定樣品中的元素組成和含量技術。
分類
根據(jù)其結(jié)構(gòu)和測(cè)量原理的不同改善，X熒光光譜儀可以分為波長(zhǎng)色散型(WDXRF)和能量色散型(EDXRF)兩種。波長(zhǎng)色散型通過測(cè)量不同波長(zhǎng)的X射線強(qiáng)度來進(jìn)行定性和定量分析結構重塑，而能量色散型則直接測(cè)量X射線的能量進(jìn)行分析推廣開來。
工作原理
X熒光光譜儀主要由激發(fā)源(如X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)組成。激發(fā)源產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)法治力量，激發(fā)被測(cè)樣品長期間，產(chǎn)生X熒光(二次X射線)。探測(cè)器對(duì)這些X熒光進(jìn)行檢測(cè)技術研究，并將信號(hào)傳輸給儀器軟件系統(tǒng)是目前主流，轉(zhuǎn)換為對(duì)應(yīng)的元素信息。
應(yīng)用領(lǐng)域
X熒光光譜儀廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域：
金屬現場、玻璃便利性、陶瓷和建材：用于材料成分分析和質(zhì)量控制。
地球化學(xué)：用于地質(zhì)樣品分析高質量。
考古學(xué)：用于古代藝術(shù)品和遺跡的分析信息化。
食品安全：用于檢測(cè)食品中的元素含量力量。
環(huán)境保護(hù)：用于環(huán)境監(jiān)測(cè)和污染分析。
科學(xué)研究：用于各種科研項(xiàng)目的元素分析。
總之方式之一，X熒光光譜儀是一種多功能的分析工具，適用于多種材料和領(lǐng)域的元素及化學(xué)成分分析深刻認識，具有快速首要任務、非破壞性、高精度和高靈敏度的特點(diǎn)新型儲能。
