探討膜厚測試儀在測量時需要注意的事項！

　　膜厚測試儀分為手持式和臺式二種方案，手持式又有磁感應鍍層測厚儀追求卓越，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀創新延展。手持式的磁感應原理時性能，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度長效機製。也可以測定與之對應的磁阻的大小強化意識，來表示其覆層厚度。

　　臺式的熒光X射線膜厚測試儀組建，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光服務體系，在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值進展情況。

　　膜厚測試儀測量時需要注意的事項：

　　1、首先大家在用測量儀進行測試使用時，要選用與試件相似的金屬磁性標準片來進行測量研究，不要選擇差別或者區(qū)分過大的標準片來試驗測量搶抓機遇，不然會導致很大的測量誤差。

　　2去創新、其次用戶需要把測量儀的側(cè)頭與試樣表面保持垂直結論，不要出現(xiàn)任何的傾斜，否則不利于測量工作的順利展開體系，會讓測量任務半途而廢的足夠的實力，變得毫無意義。

　　3提高、我們要把膜厚測量儀放置在沒有磁性干擾的場所來進行測試全面闡釋，否則會對儀器的測量性能造成影響，使得測量儀器不能夠發(fā)揮出應有的測量水平來結構。

　　4適應性強、用戶在進行測量儀的測量過程中，需要保持壓力的恒定競爭力所在，不然很容易影響到測量的讀數(shù)措施，會給大家?guī)聿焕挠绊懀尨蠹也荒苡涗浀秸_化的讀數(shù)結(jié)果情況。

　　5、測量儀在使用時要讓儀器測頭和被測試件有直接性接觸，如果兩種之間有雜質(zhì)存在的話完善好，需要先進行清理方可再展開測量工作促進進步。

　　6、大家在使用膜厚測量儀進行測試的時候全過程，不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處進行測量更高要求，這樣會造成測量結(jié)果的誤差，會給我們帶來不便性的。讓測量出來的數(shù)據(jù)是沒有任何參考價值意義的非常重要。