XRF測試儀主要由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。

　　其原理就是：X射線管通過產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)相對簡便，來激發(fā)被測樣品發展基礎。 受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線(又叫X熒光)要求，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量或者波長聯動。

　　然后技術特點，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量保持競爭優勢。 元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線發展邏輯，因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類方案，這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系發展機遇，據(jù)此創新延展，可以進(jìn)行元素定量分析。

　　用X射線照射試樣時長效機製，試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長(或能量)分開聽得進，分別測量不同波長(或能量)的X射線的強(qiáng)度深入，以進(jìn)行定性和定量分析合理需求，為此使用的儀器叫XRF測試儀。

　　由于X熒光具有一定波長基本情況，同時又有一定能量先進水平，因此，XRF測試儀有兩種基本類型：波長色散型XRF測試儀和能量色散型XRF測試儀充分發揮。