隨著客戶的需求服務，鍍層測厚儀已經(jīng)發(fā)展為多元化，那在如今市場如何選姐一款好的儀器很重要持續向好，它關(guān)系到您以后的使用方便舉行。

　　1.為什么鍍層測厚儀有時(shí)測量不準(zhǔn)確?

　　這是一個(gè)比較籠統(tǒng)的問題。因?yàn)榫蛢x器不準(zhǔn)的原因來說是多種多樣的不容忽視。滄州歐譜單對鍍層測厚儀來說習慣，主要有下面幾種原因引起測量不準(zhǔn)確。

　　(1)強(qiáng)磁場的干擾組建。我們曾做過一個(gè)簡單實(shí)驗(yàn)覆蓋，當(dāng)儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時(shí)，測量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾進展情況。如果離電磁場非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象重要的作用。

　　(2)人為因素。這種情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上研究。鍍層測厚儀之所以能夠測量到微米級就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓瘬屪C遇，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號。在使用儀器測量過程中如果用戶對本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機(jī)體去創新，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測量結論。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時(shí)，要先掌握好測量方法體系。探頭的放置方式對測量有很大影響增幅最大，在測量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過長最為顯著，以免造成基體本身磁場的干擾競爭力。

　　(3)在系統(tǒng)矯正時(shí)沒有選擇合適的基體〉谋厝灰?；wzui小平面為7mm的過程中，zui小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測量是不可靠的狀況。

　　(4)附著物質(zhì)的影響範圍和領域。本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)業務，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)矯正時(shí)，選擇的基體的表面也必須是裸露的完善好、光滑的促進進步。

　　(5)儀器發(fā)生故障供給。此時(shí)可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。

　　2.鍍層測厚儀測量過程中更高要求，為什么有時(shí)候測量數(shù)據(jù)會(huì)出現(xiàn)明顯偏差?

　　因?yàn)榫蛢x器不準(zhǔn)的原因來說是多種多樣的積極參與。單對鍍層測厚儀來說，主要有下面幾種原因引起測量不準(zhǔn)確經驗分享。

　√接?。?）強(qiáng)磁場的干擾。我們曾做過一個(gè)簡單實(shí)驗(yàn)培養，當(dāng)儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時(shí)共創美好，測量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象高效流通。 滄州歐譜

　☆A判。?）人為因素。這中情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上有力扭轉。鍍層測厚儀之所以能夠測量到微米級就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓{解製度，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號。在使用儀器測量過程中如果用戶對本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機(jī)體推動，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時(shí)設備製造，要先掌握好測量方法新模式。探頭的放置方式對測量有很大影響，在測量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直高質量。并且探頭的放置時(shí)間不宜過長應用情況，以免造成基體本身磁場的干擾。

　?。?）在系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)沒有選擇合適的基體也逐步提升。基體zui小平面為7mm能力和水平，zui小厚度為0.2mm組織了，低于此臨界條件測量是不可靠的。

　≡]入了新的力量。?）附著物質(zhì)的影響表現。本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)說服力，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸的積極性。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)，選擇的基體的表面也必須是裸露的深刻變革、光滑的高效。

　》治?。?）儀器發(fā)生故障。此時(shí)可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修質量。

　?。?）測量過程當(dāng)中由于探頭放置方式不正確或者外界干擾因素的影響可能會(huì)造成測量數(shù)據(jù)明顯偏大。這時(shí)可以按住CAL鍵把該數(shù)據(jù)清除以免進(jìn)入數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)中去十大行動。

　　3.鍍層測厚儀如何系統(tǒng)校準(zhǔn)?

　　校準(zhǔn)的方法重要性、種類，這是新用戶經(jīng)常會(huì)遇到的問題體系。系統(tǒng)校準(zhǔn)系統穩定性、零點(diǎn)校準(zhǔn)還有兩點(diǎn)校準(zhǔn)其實(shí)都已經(jīng)在說明書上寫到了，用戶只需仔細(xì)閱讀就可以了多種場景。需要注意的是：在校準(zhǔn)鐵基時(shí)是多測量幾次以防止錯(cuò)誤操作;系統(tǒng)校準(zhǔn)的樣片要按照從小到大的順序進(jìn)行科技實力。如果個(gè)別標(biāo)準(zhǔn)片丟失可以找與其數(shù)值相近的樣片代替。

　　4.如何選擇合適的儀器型號?

　　選擇什么型號的儀器集中展示，要根據(jù)用戶測量物體的厚度來定可靠保障。一般來說測量450um以下的物體時(shí)選擇OU3500F400系列，對0~450um的厚度來說該型號已經(jīng)達(dá)到2%~3%的度改造層面，而且對450um以下的厚度值它也能夠很好的確保測量精度機製。如果測量物體厚度在0-5000um，建議選擇OU3500型測厚儀大面積。更厚的話就要選擇OU3500F10型磁性鍍層測厚儀發力。

　　5.有時(shí)開機(jī)出現(xiàn)干擾是什么原因無損檢測資源網(wǎng)?

　　開機(jī)后儀器屏幕出現(xiàn)測量狀態(tài)箭頭不能再次進(jìn)行測量，就說明儀器受到了干擾集成應用。主要有兩個(gè)原因:

　　(1)開機(jī)時(shí)探頭離鐵基太近越來越重要的位置，因?yàn)殍F基磁場的影響而受到了干擾。

　　(2)沒插好探頭或者探頭線有損傷迎來新的篇章。