XRF測試儀常見故障的診斷方法
XRF測試儀是掃描型的儀器推進高水平，當(dāng)儀器運(yùn)行時(shí)高質量發展，許多部件在動作，如測角儀、晶體轉(zhuǎn)換器攻堅克難、準(zhǔn)直器等機遇與挑戰，經(jīng)常動作的部件容易出現(xiàn)問題，另外控制和探測各個(gè)部件動作的電子線路板也可能出現(xiàn)問題相關。
新型的XRF測試儀都裝有故障診斷軟件取得明顯成效，分布于儀器各個(gè)部位的傳感器將儀器的狀態(tài)信號傳輸?shù)接?jì)算機(jī)，供儀器操作者和維修工程師判斷儀器是否正常影響力範圍，找到產(chǎn)生故障的部位大力發展。但是有些在測量過程中出現(xiàn)的問題靠診斷軟件是發(fā)現(xiàn)不了的，而且診斷軟件僅僅提示產(chǎn)生了故障雙向互動，要找到產(chǎn)生故障的原因集成技術，要求維修人員對儀器的結(jié)構(gòu)比較熟悉，且具有一定的維修經(jīng)驗(yàn)生產效率。本文介紹5種常見故障的產(chǎn)生原因及處理方法創新的技術。
故障現(xiàn)象一：X射線發(fā)生器的高壓開不起來。
故障分析：這是XRF測試儀較常見的故障更合理，一般發(fā)生在開機(jī)時(shí)有序推進，偶爾也發(fā)生在儀器運(yùn)行中。故障的產(chǎn)生原因可以從三個(gè)方面去分析：1顯著、X射線防護(hù)系統(tǒng);2深入開展、內(nèi)部水循環(huán)冷卻系統(tǒng);3、高壓發(fā)生器及X射線光管發展的關鍵。
1.1X射線防護(hù)系統(tǒng)
為了防止X射線泄漏，高壓發(fā)生器只有在射線防護(hù)系統(tǒng)正常的情況下才能啟動求得平衡。射線防護(hù)系統(tǒng)正常與否有所應，主要檢查以下二部分：
1、面板的位置是否正常面向。XRF測試儀是一個(gè)封閉系統(tǒng)今年，面板是zui外層的射線防護(hù)裝置，如果有一塊面板不到位合作關系，儀器就有射線泄漏的可能真諦所在。因此，每塊面板上都有位置接觸傳感器結構不合理，面板沒有*合上共同，高壓開不起來。
2、X射線的警示標(biāo)志是否正常在此基礎上。國家標(biāo)準(zhǔn)[1]規(guī)定XRF測試儀必須安裝紅色警告信號燈并與相應(yīng)的開關(guān)聯(lián)動，因此如果信號燈失靈探索創新，高壓也開不起來開展。
有一種簡單的方法可以判斷高壓不能啟動是否是由射線防護(hù)系統(tǒng)引起帶動擴大，即將儀器的狀態(tài)設(shè)定為維修狀態(tài)，屏蔽射線防護(hù)系統(tǒng)簡單化，如果這時(shí)高壓可以開起來實現了超越，就可以確定故障是由射線防護(hù)系統(tǒng)的問題引起的。
1.2內(nèi)部水循環(huán)冷卻系統(tǒng)
高壓發(fā)生器的輸出功率一般為3kW或4kW開拓創新，將高壓加至X射線光管后確定性，除小部分用于產(chǎn)生X射線外，大部分轉(zhuǎn)化為熱能更優質，由內(nèi)部水循環(huán)冷卻系統(tǒng)帶走成就。內(nèi)循環(huán)水用于冷卻陽極靶附近的光管頭部分，因此要求內(nèi)循環(huán)水為電導(dǎo)率很低的去離子水項目，以防高壓擊穿相對開放。內(nèi)循環(huán)水通過儀器內(nèi)部的去離子樹脂柱降低電導(dǎo)率，去離子樹脂柱中的樹脂會年久失效綜合運用，因此高壓無法啟動時(shí)相貫通，可檢查一下內(nèi)循環(huán)水的電導(dǎo)率，如果電導(dǎo)率降不下去脫穎而出，考慮更換樹脂系統。另外，內(nèi)循環(huán)水的水位過低積極影響，也會導(dǎo)致高壓開不起來方法。
還有一種故障現(xiàn)象是高壓開起來幾分鐘后跳掉，產(chǎn)生這種故障的原因可能為內(nèi)循環(huán)水的流量過小進一步提升。內(nèi)循環(huán)水的流量通過流量計(jì)測量進行探討，水流過流量計(jì)時(shí)，帶動流量計(jì)內(nèi)的葉輪提供有力支撐，葉輪切割磁力線管理，產(chǎn)生電信號。葉輪在水中長期轉(zhuǎn)動數據，可能會銹蝕效率和安，從而使葉輪的轉(zhuǎn)速減慢，流量計(jì)的電信號減弱邁出了重要的一步，使儀器誤認(rèn)為水流量過小而導(dǎo)致高壓跳掉產能提升。另外內(nèi)循環(huán)水的過濾網(wǎng)堵塞導(dǎo)致水流量減小，也會引起高壓跳掉品牌。
1.3高壓發(fā)生器及X射線光管本身
高壓發(fā)生器和X射線光管是儀器內(nèi)zui貴重的部件發展空間，一般不會出問題。檢查高壓發(fā)生器，可將高壓發(fā)生器打開就此掀開，根據(jù)電路圖能力，檢查各個(gè)開關(guān)是否在正常位置，看一下保險(xiǎn)絲有沒有熔斷總之，再進(jìn)一步的檢查由專業(yè)維修工程師來做長足發展。X射線光管是個(gè)封閉的部件，一旦損壞足了準備，只能更換規模設備，不能修理。檢查X射線光管穩步前行，可檢查X射線光管與高壓電纜的連接是否正常至關重要，高壓電纜有無損壞。
故障現(xiàn)象二光譜室和樣品室的真空抽不到規(guī)定值指導。
故障分析：X射線熒光光譜分析通常在真空光路條件下工作建設項目，但光譜室和樣品室有很多部位與外部相連，可能漏氣的部位很多服務品質。檢查真空故障時(shí)傳遞，將可能出問題的地方人為分隔為三部分：真空泵、樣品室過程、光譜室的發生，對這三部分逐一檢查以縮小范圍。
2.1真空泵
將真空泵與光譜室和樣品室的接口拆下并用橡皮塞堵住進一步完善，然后抽真空相結合，如果能在幾秒鐘內(nèi)抽到規(guī)定值，可以排除真空泵出現(xiàn)故障的可能性影響。如果能抽到規(guī)定值但時(shí)間較長新產品，可能是真空泵的效率降低，這種情況一般發(fā)生在經(jīng)常分析壓片樣品和油品的儀器上性能，粉末或油被吸到真空泵油中建議，改變了油的粘度優勢，這時(shí)需更換真空泵油設計。
2.2樣品室
樣品室zui常見的漏氣部位是樣品自轉(zhuǎn)裝置上的密封圈，樣品測量時(shí)通常以0.5轉(zhuǎn)/秒的速度自轉(zhuǎn)品率，儀器幾年運(yùn)行下來善謀新篇，樣品自轉(zhuǎn)處的密封圈磨損，密封效果變差開展面對面。
2.3光譜室
光譜室zui常見的漏氣部位是流氣計(jì)數(shù)器供給，流氣計(jì)數(shù)器安裝在光譜室內(nèi)，有一根入氣管和一根出氣管與外界相通，流氣計(jì)數(shù)器的窗膜很薄拓展應用，窗膜漏氣非常重要，就會影響光譜室真空。檢查方法：將入氣管和出氣管用一根軟管連接自動化方案，使流氣計(jì)數(shù)器與外界隔絕行動力，然后抽真空。
檢查真空故障空間廣闊，在拆卸和安裝時(shí)落到實處，要小心操作，不要讓灰或頭發(fā)掉到密封圈上，以避免產(chǎn)生新的漏氣點(diǎn)營造一處，安裝時(shí)可以在密封部位涂一點(diǎn)真空油脂。
故障現(xiàn)象三計(jì)數(shù)率不穩(wěn)定線上線下。
故障分析：XRF測試儀的常用探測器有二個(gè)：流氣計(jì)數(shù)器和閃爍計(jì)數(shù)器保供。閃爍計(jì)數(shù)器很穩(wěn)定，問題常出現(xiàn)在流氣計(jì)數(shù)器上支撐能力。
流氣計(jì)數(shù)器窗膜由一塊聚酯薄膜產品和服務、hostaphan膜或聚丙烯薄膜鍍上一層很薄(約30nm)的鋁膜所構(gòu)成，由于窗膜承受大氣壓力協同控製，一段時(shí)間后隨著基體材料的延展不斷創新，鋁膜可能產(chǎn)生裂紋，從而減弱導(dǎo)電性能體驗區，這種情況對脈沖高度分布影響不大求得平衡，但會使計(jì)數(shù)率不穩(wěn)定。新型號的XRF測試儀一般都安裝1μm甚至0.6μm的窗膜道路，而不再使用6μm的窗膜面向，因此流氣計(jì)數(shù)器的窗膜導(dǎo)電性能下降的可能性增大。
檢查方法：在低X射線光管功率情況下空間廣闊，選一個(gè)KKα計(jì)數(shù)率約2000CPS的樣品合作關系，測定計(jì)數(shù)率，然后用一個(gè)鉀含量高的樣品取代原樣品研學體驗，將光管調(diào)到滿功率結構不合理，保持2分鐘，再將X射線光管功率減至原值深刻內涵，測量*個(gè)樣品競爭力，如窗膜導(dǎo)電正常，將得到原計(jì)數(shù)率逐步改善，如窗膜導(dǎo)電性能變差特點，會發(fā)現(xiàn)計(jì)數(shù)率減小，然后慢慢回升至初始值，這時(shí)就應(yīng)調(diào)換窗膜意見征詢。
故障現(xiàn)象四2θ掃描時(shí)組成部分，發(fā)現(xiàn)峰形不光滑，有小鋸齒狀集聚。
故障分析：晶體是儀器內(nèi)zui脆弱的部件發展目標奮鬥，盡量不要用手接觸衍射面，如果手或其他東西碰到了晶體的衍射面狀態，就會污染晶體規劃，手上的汗或其他物質(zhì)滲到晶體的表面，使晶體表面的晶格間距發(fā)生變化更多的合作機會，而X射線熒光的衍射主要發(fā)生在晶體的表面應用前景，因此造成2θ掃描的峰形不光滑。這種故障一時(shí)很難消除可以使用，文獻(xiàn)[3]介紹了晶體的表面處理方法兩個角度入手，但一般清洗不干凈。
故障現(xiàn)象五2θ掃描時(shí)只出現(xiàn)噪聲信號廣泛認同，沒有峰位信號進入當下。
故障分析：
可能的原因有二個(gè)：
5.1探測器的前置放大電路出現(xiàn)故障，出現(xiàn)的噪聲信號為電路噪聲的方法，不是X射線信號積極影響。
5.2測角儀的θ和2θ耦合關(guān)系發(fā)生混亂，通常是控制θ和2θ耦合關(guān)系的CMOS中的數(shù)據(jù)由于電池漏電等原因丟失生產創效，這時(shí)需要重新對光進一步提升。
